Departamento de Electrónica y Tecnología de Computadores

Histórico de Proyectos Fin de Carrera

Estudio y caracterización de los efectos de la degradación por portadores calients en transistores M

Autor: F. J. de la Cruz Cambil
Titulacion: Ingeniería Electrónica
Signatura: 8-1-080
Año: 1998