Departamento de Electrónica y Tecnología de Computadores

Histórico de Proyectos Fin de Carrera

Estudio de los efectos de la carga atrapada en el óxido sobre la movilidad electrónica en un MOSFET

Autor: Manuel Aranda Izquierdo
Titulacion: Ingeniería Electrónica
Signatura: 8-1-138
Año: 2000